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日立手持式荧光XRF光谱仪

简要描述:日立手持式荧光XRF光谱仪X-MET8000 行业认可的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,X-MET8000 系列性能强大、可靠性高,只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。

  • 产品型号:X-MET8000
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-05-27
  • 访  问  量:186

详细介绍

品牌Hitachi/日立行业专用类型有色金属
价格区间10万-30万仪器种类手持式/便携式
应用领域电子,航天,汽车,电气,综合




日立手持式荧光XRF光谱仪X-MET8000

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪,可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别,实现理想的质检和质保。

该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器 (SDD) 结合在一起,能够为客户提供各种质量检验应用。

借助 X-MET8000,您可在数秒内得到实验室质检结果,并降低检测成本,缩短检测时间。


为什么 X-MET8000 是您企业的理想之选?

分析结果值得您信任
X-MET8000 结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验系数法(可溯源的标准物质),可提供超高的分析精密度和准确度。

性能优异
该分析仪提供对轻元素(Mg 到 S)的出色分析,可快速测试大多数商业用合金,包括铝合金、硅和铝青铜等。其提供低检测限制,可准确区别相近牌号(例如 303-304、6061-6063),并可在数秒内得到实验室质
检结果。

易于操作
直观的图标驱动式用户显示意味着操作员几乎不需任何培训。该分析仪拥有便于快速制定决策的可自定义
结果屏幕,同时显示您所需的重要信息。
该分析仪具备轻便性(1.5 千克),采用了符合人体工学的设计,因此操作舒适,适合日常使用。屏幕方便
操作员阅读,即使在阳光直射下也不受影响,且可在穿戴手套的情况下操作。

准确
样品尺寸自动补偿,可准确测试直径小至 1 毫米的管材、杆体、线材,以及焊缝、紧固件、车削下脚和碎屑等。


结构旨在经久耐用
X-MET8000 具备 IP54 防护等级(相当于 NEMA3),有防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳,且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶,可有效防止受到撞击。采用大面积散热器,即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口(Expert 及 Optimum 型号的选购件)和高强度厚 Kapton® 窗口(Smart 型号)可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。

强大的数据管理功能
可存储多达十万个检测结果,包括光谱谱图和样品图像(若配备相机)结果和报告可直接下载到 U 盘,或通过 USB 数据线传到 PC 上,也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告(无需安装任何软件)。此类报告可以
包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用,您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。

全面的、可自定义的牌号库
X-MET8000 内含有全面的牌号库:预安装的、用户可选的 AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改,添加新牌号(例如某个厂商或者产地特定牌号),或者创建自己的牌号库(例如特定的焊接材料牌号库)。

预装牌号库包括
| 镍合金。
| 不锈钢。
| 铜合金。
| 铝合金。
| 钴合金。
| 低合金钢。
| 工具钢。
| 钛合金。
| 锆合金。
| 等。


X-MET8000 Smart
X射线管:40kV
滤光片:单一
检测器:大面积 SDD
最高样本温度:400ºC
符合 IP54 等级
Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏
校准:基本参数法(FP)
内置摄像头 (可选)

X-MET8000 Optimum
X射线管:40kV or 50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准:基本参数法 (包括轻元素分析)
内置摄像头(可选)
小光班准直器(可选)
针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片

X-MET8000 Expert
X射线管:50kV
滤光片:6位滤光转换器
检测器:大面积 SDD
最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)
符合 IP54 等级
可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护
校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)
内置摄像头
小光班准直器 (可选)
针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片


日立手持式荧光XRF光谱仪X-MET8000

探测器

采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器,分辨率优于150eV

靶材

采用Rh靶材X射线光管,电压40KV,电流50uA

测试窗口

9毫米

重量

1.5公斤(含电池)

认证

CE

防护

通过IP54(NAME3)防水防尘测试,提供SGS认证书

工作温度

-10~+50℃

供电电池

提供两块可充电可显示电量的锂电池,持续使用时间10~12小时,110/230V,50/60HZ直流电源充电器

显示屏

4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏

操作系统

采用更稳定简洁的Linux操作系统,用户可建立数据库

操作语言

可12种语言操作界面包括:英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语

通讯

可通过USB传输数据,无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备;也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘;或使用wifi或蓝牙在线网络共享

报告编辑器

报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式,确保原始数据的安全性

测试方法

提供土壤样品基本参数法(FP法):可测试土壤及矿物样品中的 Ag, As, Au, Ba, Ca, Cd, Cr, Co, Cu, Fe, Hg, K, Mn, Mo, Ni, Pb, Pt, Rb, Se, Sr, Sn, Sb, Ta, Th, Ti, Tl, V, W, Zn, Zr Br.等28种元素;提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法,符合EPA 6200方法要求





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