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产品名称:利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪

产品型号:SZ-WL15A

产品报价:

产品特点:利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪 SZ-WL15A 是快速和可靠金属分析 体积小巧,且具有超高的性价比。适用于所有金属及其合金,包括:铸铁、铁、钢铝、铜、镁、镍、铅、锡、钴、钛 等。

SZ-WL15A利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪的详细资料:

利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪


SZ-WL15A 快速和可靠金属分析  体积小巧,且具有超高的性价比。


我们的光谱仪旨在完成快速而可靠的样品检测。新一代leetes先进的光谱分析技术,30年光谱仪研发制造经验、技术创新和专业的售后服务,为每一台光谱仪用户提供可靠的材料分析方案。


WL15A内容图.jpg


WL15A 提供快速、稳定和精确的分析以实现样品检测要求。 它是一台功能强大且可靠的光谱仪,光学系统采用CCD检测器,在部分领域可以媲美经典光电倍增管式的光谱仪。

分析的材料类型 全面的分析程序可供选择,适用于所有金属及其合金,

包括:铸铁、铁、钢铝、铜、镁、镍、铅、锡、钴、钛


光学系统 :

全谱平场光学系统,波长可选范围:130-1100nm


检测器 :

(紫外区)采用高性能滨松(HAMAMATSU)背照式CCD检测器

检测器范围.png


开放式激发台,适用于分析不同几何形状的大样品,采用双气路氩气冲洗电极模式大大节约氩气,热交换设计,无需水冷,易于清理维护。


火花激发系统 :

激发误差 是直读光谱分析中主要误差,对火花激发系统中光源的稳定性要求异常严格。WL15A采用全频数字双脉冲激发光源,可变频(100-1000Hz)激发技术。


具有以下特点:

激发电路中无电阻部件,不发热,提高热稳定性低压火花放电,增加系统可靠性减少维护保养,仅需清洗激发电极

1.分析准确度高,时间快

2.体积小、重量轻

3.高度集成化、高可靠性

4.数据分析稳定、快速

5.全谱检测,通道不受限

6.操作简单

7.分析模式


核心原理图:

核心原理图.png


CCD的优势 :

windows系统下全中文操作界面,有多种语言模式一键激发

即可获取数据内置自我诊断系统

自动处理结果,10-30S 完成样品分析

预装金属牌号,能快速鉴定。可自由选择分析模式、

配置分析曲线,也可根据应用需求优化参数。

1. 连接激发光源

2. 狭缝

3. 滤镜

4. 准直镜

5. 光栅

6. 聚焦镜

7. 带滤光片的检测器

8. 背照式CCD检测器


应用领域

冶金、铸造、机械加工、炉前化验、科研、商检、汽车、石化、造船、电力、航空航天、核电、兵器  


检测范围

铁基、铜基、铝基、镍基、钴基、镁基、钛基、锌基、铅基、锡基、银基

WL15A内容图2.jpg



利特斯光谱仪CCD全谱直读光谱分析仪

SZ-WL15A 直读光谱仪技术方案仪器技术参数表格

项目

参数描述

检测应用

金属基体合金的成分测量

光学系统

全谱光学系统

波长范围

130~1100nm

光源类型

全频数字双脉冲激发光源,可变频(100-1000Hz)激发技术

检测器

CCD检测器,(紫外区)采用高性能滨松(HAMAMATSU)背照式CCD检测器

电极

采用双气路氩气冲洗电极模式

数据采集读出系统

高速16位ADC模数转换,DSP数字信号控制器,工业USB数据采集(100KHz/s),单火花脉冲数据采集,可用于酸溶铝和酸不溶铝检测。

分析软件

全中文windows系统下运行分析软件,设置分析参数,激发、冲洗、予燃爆光时间选择,自动完成

工作电源

220±20)V AC,(50±1)Hz,保护性接地的单相电源

工作温度

(10~30)℃

存储温度

(0~45)℃

工作湿度

20%~80%

氩气纯度要求

99.999%

氩气进口压力

0.5Mpa

氩气流量

激发流量约(3-6)L/min,维持流量约(0-0.5)L/min

激发最大功率

500VA

激发台孔径

12mm

样品台

火花台尺寸为120x120mm ,放电室特殊设计,双脉冲火花放电,十分便于激发和省氩气,激发电极为钨电极或银电极。

尺寸

外形尺寸:684×584×350mm

重量

45kg

SZ-WL15A 标配供货范围

  内容描述

数量

SZ-WL15A 全谱直读光谱仪主机

1

分析基体

1个

工作曲线

2套

数据处理系统(光谱仪内置)

1

分析及校准软件(U盘)

1

计算机(联想)

1

打印机(HP)

1

高低标

2个

减压阀

1套

电极刷

1个

过滤器

1个

用户手册(仪器使用说明书)

1

WL15A内容图1.jpg



CCD 原理及发展应用

CCD 是指电荷耦合器件,是一种用电荷量表示信号大小,用耦合方式传输信号的探测元件,具有自扫描、感受波谱范围宽、畸变小、体积小、重量轻、系统噪声低、功耗小、寿命长、可靠性高等—系列优点,并可做成集成度非常高的组合件。

电荷耦合器件(CCD)是20世纪70年代初发展起来的一种新型半导体器件。

CCD是于1969年由美国贝尔实验室(Bell Labs)的维拉·波义耳(Willard S. Boyle)和乔治·史密斯(GeorgeE. Smith)所发明的。

当时贝尔实验室正在发展影像电话和半导体气泡式内存。将这两种新技术结合起来后,波义耳和史密斯得出一种装置,他们命名为“电荷‘气泡’元件"(Charge "Bubble" Devices)。

这种装置的特性就是它能沿着一片半导体的表面传递电荷,便尝试用来做为记忆装置,当时只能从暂存器用“注入"电荷的方式输入记忆。但随即发现光电效应能使此种元件表面产生电荷,而组成数位影像。 

到了70年代,贝尔实验室的研究员已经能用简单的线性装置捕捉影像,CCD就此诞生。有几家公司接续此一发明,着手进行进一步的研究,包括仙童半导体(Fairchild Semiconductor)、美国无线电公司(RCA)和德州仪器(Texas Instruments)。

其中快捷半导体的产品
上市,于1974年发表500单元的线性装置和100x100像素的平面装置。

CCD图像传感器可直接将光学信号转换为模拟电流信号,电流信号经过放大和模数转换,实现图像的获取、存储、传输、处理和复现。



CCD 优势及特点:

1.体积小重量轻;

2.功耗小,工作电压低,抗冲击与震动,性能稳定,寿命长;

3.灵敏度高,噪声低,动态范围大;

4.响应速度快,有自扫描功能,图像畸变小,无残像;

5.应用超大规模集成电路工艺技术生产,像素集成度高,尺寸精确,商品化生产成本低。


因此,许多采用光学方法测量外径的仪器,把CCD器件作为光电接收器。


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