奥林巴斯超声波探伤仪单晶探头

奥林巴斯超声波探伤仪单晶探头A133S-RM
 

接触式探头是一种可与被检工件直接接触的单晶纵波探头。

优势
• WC-5防磨板增加了这种探头的耐用性、抗裂性及防磨性。
• 所有这类探头都可用于检测面粗糙的工业部件。
• 具有与大多数金属匹配的近似声阻抗。
• 可用于检测多种材料。

应用

• 垂直声束缺陷探测和厚度测量。
• 分层缺陷的探测和定量。
• 材料特性评价和声速测量。
• 检测平板、坯材、棒材、锻件、铸件、挤压成形件及其它金属与非金属部件。
• 可在50°C（122°F）的高温下持续使用。

奥林巴斯超声波探伤仪单晶探头A133S-RM

奥林巴斯超声探头选择

接触式探头：

接触式探头是一个通常可生成纵波且与被测样件直接接触的单晶探头。所有接触式探头都装有WC-5防磨面，不仅具有超级防磨效果，可以延长探头寿命，还可以提供适合于大多数金属的好的声阻抗。

接触式探头是一种可与被检工件直接接触的单晶纵波探头。

优势

• WC-5防磨板增加了这种探头的耐用性、抗裂性及防磨性。

• 所有这类探头都可用于检测面粗糙的工业部件。

• 具有与大多数金属匹配的近似声阻抗。

• 可用于检测多种材料。

应用

• 垂直声束缺陷探测和厚度测量。

• 分层缺陷的探测和定量。

• 材料特性评价和声速测量。

• 检测平板、坯材、棒材、锻件、铸件、挤压成形件及多种其它金属与非金属部件。

• 可在50°C（122°F）的高温下持续使用。

指尖接触式

• 大于6毫米（0.25英寸）的探头带有凸节，便于抓取。

• 303不锈钢外壳。

• 薄外形的特点便于检测难于接触到的表面。

• 根据客户的要求，可免费提供用于方便抓取探头的可拆装塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件编号为CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件编号为CAP8。

• 标准配置为直角连接器，并适用于Microdot连接器。

双晶探头：

双晶探头包含两个纵波晶片（一个用作发送器，另一个用作接收器），两个晶片装于同一个外壳中，但中间有一层隔音屏障。每个晶片都稍微向另一个晶片倾斜，目的是使从工件底面反弹的信号以V形声程传播。双晶探头在检测严重腐蚀的工件时一般都能提供更稳定的读数，而且还可用于高温环境。

双晶探头在同一个外壳中装有由隔音屏障分开的两个晶片。一个晶片发射纵波，另一个晶片作为接收器接收声波。要了解有关用于MG2和37系列测厚仪的探头更详细的情况请咨询我们。

优势

• 改进了近表面的分辨率。

• 避免了高温应用所需的多延迟块。

• 在粗糙或弯曲表面上的耦合效果好。

• 减少了粗晶粒或易散射材料中的直接反向散射噪音。

• 将低频单晶探头的穿透性能与高频单晶探头的近表面分辨率性能结合在一起。

• 可与曲面工件外形相吻合，紧贴在工件的表面。

应用

• 剩余壁厚测量。

• 腐蚀/侵蚀监控。

• 焊缝覆盖和覆层的粘胶/脱胶检测。

• 探测铸件和锻件中的多孔性、夹杂物、裂纹及分层等缺陷。

• 探测螺栓或其它圆柱形部件中的裂纹。

• 等于或小于5.0 MHz的探头可承受的最高温度为425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探头可承受的最高温度为175°C（350°F）。表面温度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情况下，建议使用的占空因数为最多10秒钟接触，然后进行最少1分钟的空气冷却（不适用于袖珍双晶探头）。

角度声束探头：

角度声束探头是一种与楔块一起使用的单晶探头，可以所选的角度将纵波或横波

发射到工件中。角度声束探头可以对工件中垂直入射接触式探头的超声声程无法到达的区域进行检测。角度声束探头一般用于焊缝检测，因为如果使用标准接触式探头，焊冠会挡住声波，使声波无法到达希望检测的焊缝区域，而且一般的缺陷对准操作会使角度声束产生更强的反射信号。

角度声束探头是一种与楔块一起使用的单晶探头，可以向被测工件内部发射折射横波或纵波。

优势

• 三种材料制成的Accupath楔块在提高了信噪比性能的同时，

还表现出好的防磨特性。

• 高温楔块可对热材料进行在役检测。

• 用户可根据需要定制楔块，以得到非标准的折射角度。

• 具有可更换型和整合型两种结构设计。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在铝制材料中获得标准折射角度的楔块及整合组件设

计（参见第15页）。

应用

• 缺陷探测与定量。

• 要了解衍射时差探头，请参阅第35页。

• 检测管道、管件、锻件、铸件，机加工部件和结构部件上的焊缝缺陷或裂缝。

袖珍旋入式探头

• 旋入式设计，303不锈钢外壳。

• 不同频率的探头颜色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高温和表面波楔块。

延迟块探头：

延迟块探头为单晶宽带接触式探头，其特殊的结构设计是在探头晶片前插有塑料或环氧材料制成的一个薄片。延迟块改进了工件近表面缺陷的分辨率，可以测量更薄的材料厚度，并能提供更精确的厚度测量结果。延迟块可根据工件的表面几何形状紧贴在工件上，而且还可用于高温应用中。

可更换延迟块探头是一种单晶接触式探头，专门与可更换的延迟块一起使用。

优势

• 强阻尼探头加上延迟块可以提供好的近场分辨率。

• 较高的探头频率提高了分辨率。

• 直接接触法可提高测量薄材料及发现细小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，适用于曲面工件。

应用

• 精确测厚。

• 垂直声束缺陷探测。

• 对接触区域有限的工件进行检测。可更换延迟块探头

• 每个探头的配置都带有一个标准延迟块和一个固定环。

• 备有高温延迟块和干耦合延迟块。

• 探头及延迟块端部之间需要耦合剂。