美国GE探伤仪特殊探头 原德国KK

美国GE探伤仪特殊探头 原德国KK

数字化 | 涡流 | 胶片 | 检测系统 | 超声波 | X射线

特殊探头能为您解决特殊检测问题

如果您正有一个检测难题需要解决，而标准探头不能解决您的问题，那么您需要读读这本小册子。这里介绍的是已经在许多超声检测领域获得成功应用的特殊探头，它们都已经通过检测验证，得到用户的肯定, 并且可以根据客户需要定制。其中必有一种能解决您的检测问题。

由于我们特殊探头的范围非常广，我们需要把同类型的探头归类在一起，从产品型号的编号上对探头归类（例如B2S-0A）。在这种情况下，为了选择合适的探头，您必须要对检测任务有详细的了解。

解决方案是您能发给我们检测物件的图纸，上面标有探头位置，缺陷位置，可能需要的频率等。如果您在这本册子里没有找到与您的检测问题相关的信息，也请把你的详细需求发给我们，我们的探头及应用专家将很乐意为您寻求解决方案并为您提供合适的探头。

特殊探头能为您解决特殊检测问题

① RB…,MRB…型

用于管道周向检测的斜探头，能够同时从两个周向检测管道的。Lemo00接头。

② IR…型

从管道内部检测缺陷或测量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探头—4MHz，6个6x6mm晶片水浸探头，带2.5m探头线。我们也能提供其他

频率，晶片尺寸和晶片数量的探头，相应的多晶片斜探头可以用来检测横向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探头，园柱曲面，晶片宽30mm，由PVDF材料制成，带1.5m

Lemo1接口探头线。可提供其他频率和晶片尺寸的探头。

铁轨检测探头

① SESZS…型

4MHz双 晶 直 探 头 ， 0.95m探 头 线 ，Lemo接头。

② SESZW…型

双晶斜探头，声束同时向前，向后70º入射，2MHz，带0.75m探头线，Lemo1接头。

③ WB45-01型

45º斜探头，1MHz，顶端带Lemo1接头；套在夹具上组成前后串联式检测铁轨。

注释:

SESZS…型和SESZW…型都适用于铁轨检测系统自动检测。用于坯饼检测时请参

考第6页，板坯检测。关于其他的检测问题，请联系我们的专业技术人员。

用于轴承和轮轴

① B2S-0A…型

1MHz，2MHZ，4MHZ斜探头，晶片直径24mm，可更换保护膜。通过不同角度延

迟块得到7º 14º 21º 28º 纵波斜探头。顶部Lemo1接头。尤其适用于检测大轴承偏

心位置的体积型缺陷。

② AW…型

斜探头，延迟块可更换，2MHZ，晶片直径24mm，Lemo1接头；适用于横波探

伤，探头接触面可与曲面耦合。

③ ASW…型

斜探头，用横波检测轮轴中心孔，带有2m探头线，Lemo1插头一个。

④ B…S, MB…S

直探头，可提供各种频率，晶片直径为10mm和24mm，带延迟块。B…S型为

Lemo1接头，MB…S探头为Lemo00接头。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

带延迟块的纵波斜探头，专为电梯轴承检测设计，与Lemo 00插头匹配。

注释:

对于粗晶材料(由于晶粒散射而导致信噪比差)，请参照第15页“粗晶结构材料

的检测”。关于特大轴承检测请参照第6页“大型部件检测”。

用于板坯

① SEZ4R10…型

双晶4MHz探头，声束宽度约为50mm，由一个发射晶片和3个接收晶片组成，一根探头线，带有4个Lemo1接头。

① 5Z6X27ND型

双晶5MHZ探头，声束宽度约为25mm，带Lemo1接头的探头线，尤其适合板材边缘检测。

② B…S-O型

提供各种频率的直探头，可更换保护膜，顶部Lemo1接头。例如用于检测平板辊筒。

③ SEZ4N30V，SEB4TV型

4MHz双晶探头，2.5m带Lemo1接头探头线一根，即使在不断升高的温度下也适用于检测平板辊筒。

④ UWB…

1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可调斜探头，可以得到纵波和横波，配有Lemo1接

口，用于产生兰姆波。

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 触 法 的 聚 焦 直 探 头 ，2MHZ，晶片直径34mm，50mm，或

75mm，深度越深处，焦点直径越小，Lemo1接头。尤其适用于各个方向的相

邻缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 头 ， 晶 片 直 径 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深处，焦点直径越小，Lemo1接头。

③ SEB…G型

双晶探头，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接头。

④ GRST…型

相控阵探头，声束焦点和角度可变，可用于自动检测系统。

用于特殊形状工件

例如飞机零件

① G…MN，G…KS型

多 种 频 率 高 分 辨 率 的 直 探 头 ， 可 更换延迟块，Microdot接头，G…KS为

Lemo00探头。例如用于涡轮叶片冷却壁 测 量 。 检 测 塑 料 时 ， 延 迟 块 可 根

据 实 际 使 用 环 境 设 计 ， 使 延 迟 块 跟工件完美耦合，消除界面回波（0界面探头）。

② H…MN…F型

高分辨率水浸探头，多种频率和晶片直径可选，探头带有喷水耦合的喷嘴和防

水Lemo03接头；例如用于涡轮叶片的厚度测量。

③ SMWB…

小晶片斜探头，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接头；例如检测铆钉孔的裂纹，也可用串联式技术检测。

例如：汽车部件

汽车零件的检测几乎是机械自动化的。活塞，阀门，轮轴，齿轮检测的相关信

息可在特别发布的SD263资料中找到。点焊检测的信息参见第10页。

 美国GE探伤仪特殊探头 原德国KK

用于其他检测应用

超声检测的应用范围非常广，我们经常接到一些检测应用要求，有些检测要求

至今为止都没有方法实现，我们收集了大量相关资料。这里列举了一些例子：

猪的脂肪与肌肉检测，皮肤厚度的测量，眼睛的长度测量，人体眼睛透镜厚

度的检测，鸡蛋壳的厚度测量，食物中固体的确定，金锭和金币的检测，骨骼

康复治疗的监测，液体的凝固和分离，啤酒，奶酪或水果的成熟度，微型电子

部件等的检测。

我们致力于解决超声领域各种应用要求。因此，如果您有检测要求，请务必

与我们联系，我们将给你一个解决方案。

用于混凝土，石头，和木材

① B0.05N，B0.05U…型

直 探 头 ， 5 0 K H Z ， 接 触 面 3 0 m m 和55mm，信号衰减弱，Lemo1接头；只

能用于穿透式检测。我们可以提供更高频率探头。

② B0.05NN型

直探头，50KHZ，探头通过增强杆增强超声信号，声束传播直径大，Lemo1接

头，只适用于穿透式软质材料的检测(如木材）。

③ K0.1G，K0.25G型

100KHZ和250KHZ直探头，接触面直径45mm，阻尼性好，例如脉冲持续时间

短，防水Lemo1接头；在脉冲回波模式可用于精确测量超声传播时间。

③ B…SL，G0.5G型

250 kHz，500 kHz，1 MHz直探头，各种晶片尺寸可选，Lemo1接头。

用于陶瓷（如绝缘材料）

① K…G，K…N 型

高分辨率直探头，提供各种频率，晶片直径24mm和10mm，耐磨接触面和Lemo00接头。

② IB…

2MHZ或4MHZ，Lemo00接头，窄外壳设计使得探头能进入伞形绝缘体的缝隙中。

③ IW…B…

4MHZ 斜探头，Lemo00接头。入射角取决于缺陷位置和探头耦合点。注释：大部分标准探头可以用于检测大绝缘体，成形的陶瓷工件可使用高频探头（如AP-FM50.3.1）水浸法探伤。

用于简单复合纤维塑料

① G…NS，G…KS型

各种频率冲击波直探头，晶片尺寸可选，通过螺纹固定保护膜或延迟块，Lemo00接头。可以根据工件材料设计延迟块，尽量消除界面波的影响（0界面探头）。也适用于带涂层工件的厚度测量。

② CA212，CA214

高分辨率直探头，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接头，通过螺纹固定保护膜或延迟块，适用于带涂层工件的厚度测量。

② G…N，G…KB

各种频率冲击波直探头，晶片尺寸可选，Lemo00接头，耐磨接触面。

③ W70B2GT型

70º斜探头，频率为2MHZ，Lemo00接头，适合检测PE和PVC材料。65º斜探头可用于检测大厚度材料，WB70-1适合厚度更大的材料。

说明：

关 于 热 塑 料 的 检 测 请 参 见 特 别 版SD277资料，干耦合检测相关信息见第14页。

用于点焊检测

① G20MN…型

高 分 辨 率 直 探 头 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接头和水延迟线，由可更换弹性保护膜密封，用于点焊检测；晶片尺寸取决于点焊焊核，可以用15MHZ探头检测更大厚度的点焊。更多详情请看特别版SD272。

用于精密部件检测

① G…MN型

各种频率冲击波探头，晶片直径可选，Microdot接头，可更换延迟块；尤其适用于点焊检测。

② H…NA，H…KA，H…MA型

各种频率，晶片尺寸可选的水浸冲击波探头，H…N，H…K带2.5m探头线，H…M带1.5m探头线，Lemo00接头；尤其适合厚度测量。

③ H...KP...F, H...MP...F型

各种频率，晶片尺寸，焦距可选的高分辨率水浸探头，防水Lemo03接头，并附有用于机械自动检测的喷水耦合喷嘴。

胶接层检测

例如在滑动轴承（白金属铁或铝铁），焊接头（铁与铁或者铜与铜，铜表面包银），搭接焊，离合器扭转或制动衬板粘结检测，关于更详细的胶接检测信息请查阅另外更详细的资料SD288。然而，对于大部分检测应用要求，标准 探 头 都 能 满 足 。 如 有 特 殊 应 用 需求，请联系我们-我们将为您提供合适的探头。

腐蚀检测

DA312

双晶探头检测的小厚度为0.6mm。

DA412

性能与DA312一样，比DA312多对话功能，探头里存储了探头参数。

DA311

相当于标准探头DA301，只是探头接口在顶部。

DA303

2MHz双晶探头，用于测量声能吸收或者声散射严重的材料。

DA0，8G

双晶探头，用于声衰减或者声散射非常严重的材料（例如，铸件或者塑料）。

DA408

与DA0，8G相同，只是比DA0，8G多对话功能，探头里存储了探头参数。

DA317类型

双晶探头用于检测厚度比较小并且表面温度大为300℃的工件，该型号探头的耦合稳定性非常好。

DA319

与DA312相同，只是该型号能用于表面温度高达250℃的工件。

HT400

双 晶 探 头 用 于 检 测 表 面 温 度 高 达550℃的工件，在室温下可测量的小厚度为0.8mm。

DA305

双晶探头使用石英玻璃延迟块，尤其适合于温度非常高的工件检测。

DA类型

一个非常小的笔型双晶探头，Microdot接 头 ， 可 以 检 测 接 触 面 积 非 常 小 的工件。

CA212，CA214

高 分 辨 率 直 探 头 ， 频 率 为 2 M H z 或5MHz，通 过 螺 纹 固 定 延 迟 块 或 保 护膜 ； 适 用 于 带 A 扫 描 测 厚 仪 测 量 厚度值。

用于测试材料特性

例如利用纵波横波声速计算弹性模量。

G…N，G…KB，G…K型

各种频率，晶片尺寸可选的冲击波直探头，耐磨损接触面，Lemo00插头。

G…K型为

Microdot接头。适合测量纵波声速。

SM-P…型

各种频率，晶片尺寸可选的高分辨率直探头，Microdot接头，有一个磁环可将探头固定在磁性材料上。尤其适合测量螺栓应力。

K…NY，K…KY型

高分辨率横波直探头。多种频率和晶片尺寸可选。Microdot接头。适合测量横波声速，适用于精密测厚仪。

注释：

如有需要，横波和纵波晶片可以同时封装在一个外壳里。例 如 可 以 用 来 确 定 硬 化 层 的 厚 度 和纯度。

Z20m型

20MHZ，窄脉冲水浸探头，晶片尺寸5mm，1.5m探头线，Lemo1接头。适合用超声背散射测量硬化层深度。

注释：

硬化层和未硬化层之间的结构突变是测量的先决条件。参见SD284。

Z10M型

10MHZ窄脉冲水浸探头，晶片尺寸5mm，1.5m探头线，Lemo1接头。适用于纯度测量。

串联式焊缝检测

•  W45SEK2/…型

45º斜探头，双晶片，两晶片的声轴交点在焊缝中心；适用于对接焊。

② D45N2…型

各种角度，频率，晶片尺寸的斜探头，适用于串联式厚焊缝检测。可用于机械自动检测。

高温高压或辐射环境下检测

•  W…B2GV，W…B4GV

45º，60º，70º斜探头，频率2MHZ，或4MHZ。Lemo00接头。适合高温超声检测。

② SEB4KV

4MHZ双晶探头，Lemo00接头，与A扫描显示的仪器连接可在高温下用于厚度测量。

LWG854型

防辐射探头：如检测渗水燃油杆。

③ H5KV型

5MHZ水浸探头，防水Lemo03接头，可在125º和60bar下工作。尤其适合检测输油管道连续厚度测量和缺陷检测，用特殊的表面保护层可用于腐蚀性材料检测。

④ K5KVB4型

5MHZ直探头，耐热延迟块，可用于高温高压下塑料部件的厚度测量。使用特殊延迟块可用于腐蚀性材料检测。

注释：

高温测厚探头详细资料见第11页。

用于结构复杂，空间接触面积受限制的工件

SMWB型

小晶片斜探头，频率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可选，Microdot接头。

② K…M…型

各频率小晶片直探头，（外径2.5mm，高度3mm），Microdot接头或固定细探头线。可提供接触面直径为2mm的锥形延迟块。

③ WSY型

90º爬波探头，Lemo00接头，用来检测难以接近的位置。

注释：

爬波在工件表面下沿直线传播。它并不像表面波一样沿着表面传播。所以有些用其他超声波无法检测到的缺陷可以用爬波检测到。这种探头必须很好的与材料表面贴合在一起才能产生爬波。

不用耦合剂（干耦合）检测

如果在检测工件表面不能使用液体耦合剂，某些情况下可以使用塑料来代替。

用塑料箔或塑料冒安装在探头前面保证探头和检测工件耦合。滚筒探头，

B1KS，B1KE型带有特殊接触面可以在没有耦合的情况下连续检测。在这种情

况下，保证探头和被检物件表面的清洁是十分重要的，因为工件表面的脏物会

使探头不能与工件耦合。这种技术尤其适合于塑料检测。详情请参见SD261。

用于粗晶材料的检测（铸件和奥氏体材料）

很多用于检测粗晶材料的探头都得到成功应用，现在已成为标准探头。

包括：

•  K…S，K…SM

各频率高分辨率直探头，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接头，通过螺纹固定保护膜，延迟线和斜楔。

② WRY…，WSY…

45º，60º，70º纵波斜探头，高分辨率，频率2MHZ。WSY…频率4MHZ，Lemo00接头。

③ VRY…，VSY…

45º，60º，70º，2MHZ纵波双晶斜探头。VSY… 4MHZ，Lemo00接头。如果您需要与上述标准探头频率、入射角、接头型号不同的探头，请联系我们，我们将给您提供探头，使其能满足您的应用需求。

根据标准检测

很多国家的标准都规定了探头的技术参数，常规检测的检测方法和规范。这些

标准的数量和范围都非常大，在此对于具体的探头参数不一一列举。

如果您需要符合特定标准的探头，请联系我们，如果您急需探头的话，我

们建议您给我们提供基于标准的探头技术资料。