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美国Oakland薄膜和纸张测厚仪MX-1100

简要描述:泰立仪器代理美国Oakland薄膜和纸张测厚仪MX-1100,美国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100,既可单独使用,也可以和电脑连接。可选配质量控制软件(Quality Control Software),以用于测量结果的分析和统计。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-03-15
  • 访  问  量:1961

详细介绍

美国Oakland薄膜和纸张测厚仪MX-1100仪器特性:

■操作简单 三种操作模式:手动,数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
■丰富的扩展功能 可外接打印机,电脑和专业软件。

 

美国Oakland薄膜和纸张测厚仪MX-1100技术参数和规格

详细参数
可测样品所有的薄膜和薄片材料
测量范围0 - 50mil,0 - 100mil,0 - 200mil,0 - 300mil 或0 - 1270um,0 - 2540um,0 - 5080um,0 - 7620um 或0 - 1.3mm,0 - 2.5mm,0 - 5.0mm,0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时,请um或mm显示
行程(探头缩回高度)对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率:0.01mil或0.1um或0.001mm,量程在0 - 200mil时; 0.1mil或1um或0.001mm,量程在0 - 300mil时。
精度+/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm
平行度+/-1.0um或更好
测头尺寸直径4.3mm(薄膜)
直径15.9mm(纸张)
或针对其他材料的其他尺寸
测头压力4.0 - 8.0psi(0.562kg/cm²),薄膜
7.3psi(0.513kg/cm²),纸张
或针对其他材料的其他设置
循环速率20/分钟(40/分钟,可选),薄膜
20/分钟(12/分钟,可选),纸张
或针对其他材料的其他设置
下落速率1mm/sec,纸张
仪器尺寸(宽x长x高)25 x 25 x 28 cm
标准配置主机,标准厚度片,脚踏开关
选配件打印机,质量控制软件(Quality Control Software)
符合标准ASTM D 374,TAPPI T-411,BS 2782-6,Din 53370

 

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