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奥林巴斯测厚探伤延迟探头V201-V208RM 所提供的系列探头可用于探伤、测厚和材料研究等应用。此外，奥林巴斯还提供设计服务，为客户定制可满足应用需求的探头解决方案。
奥林巴斯超声探伤仪测厚仪探头，可用于探测和表征一系列材料（例如金属、塑料和陶瓷）中的缺陷，有助于您优先考虑性能和安全。我们的无损检测解决方案和设备用途广泛，具有多种测量功能，可助力您进行必要的检测。
奥林巴斯测厚仪45MG和38DL PLUS探头M109-RM 和 M109-SM 是接触式探头，Microscan 探头经常与测厚仪、探伤仪及其他超声仪器配合使用，完成多种检测应用。
奥林巴斯Olympus超声波测厚仪探头M112 测厚仪型号：45MG 38DL PLUS 探头频率范围： 2.0 ～ 30 MHz
奥林巴斯Olympus超声波测厚仪探头D7910 适用于： 27MG测厚仪 45MG测厚仪 38DL PLUS测厚仪 MAGNA-MIKE 8600测厚仪 35RDC测厚仪
贝克休斯超声波测厚仪探头，欧洲规格G...MN系列，高精度超声波测厚仪CL5 适用。
美国GE超声测厚仪DM5E探头DA501EN 新一代便携式腐蚀监测超声波测厚仪。进行油气以及石化和发电行业的管道、压力容器及储罐的壁厚测量。
奥林巴斯 Olympus 测厚仪 探伤仪耦合剂 B2 D12 H2 SWC-2 ，我们所提供的各种类型的耦合剂可以适用于大多数应用。
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