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美国DeFelsko轮廓仪 表面粗糙度仪

简要描述:美国DeFelsko轮廓仪 表面粗糙度仪 RTR3D 测量喷砂表面和有纹理的涂层表面的2D/3D轮廓参数。

  • 产品型号:RTR3D
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-04-15
  • 访  问  量:161

详细介绍

品牌DeFelsko/美国狄夫斯高价格区间1万-5万
产品种类接触式轮廓仪/粗糙度仪产地类别进口
应用领域电子,航天,汽车,电气,综合

美国DeFelsko轮廓仪 表面粗糙度仪RTR3D


简介

美国DeFelsko公司表面粗糙度轮廓仪PosiTectorRTR3D利用Testex™ Press-O-Film™拓片纸,测量喷砂表面和有纹理的涂层表面的2D/3D轮廓参数。

符合ASME B46, ASTM D4417/D7127, ISO 8503-5, NACE SP287, SSPC-PA 17, SSPC-SP5, SP6, SP10, SP11-87T等标准。


RTR-750-3.jpg

特点


简便

-测量HL(波峰波谷高度)值和常见的2D/3D轮廓参数,如Ra、Rz、Sq、Spd等

-可测量平面、曲面和不规则表面

-更大的2.8英寸抗冲击彩色触摸屏,重新设计的按键,用于快速菜单导航

-在线帮助功能

-重置功能可迅速还原到出厂设置状态


耐用

-防风雨、防尘和防水--IP65防护等级外壳

-符合人体工程学设计,增加了机身两侧的橡胶护边

-带减震保护的橡胶套,增加抗冲击性

-表面粗糙度轮廓仪PosiTectorRTR3D


精确

-每台仪器都有可追溯到经认可的国家实验室的校准证书(包含Ra和Rt值)

-符合包括ISO和ASTM在内的标准


通用

-PosiTector主机可配6000、200、UTG、RTR、SPG、DPM、SST、SHD或BHI探头,组合成涂层测厚仪、超声波测厚仪、表面粗糙度轮廓仪、露点仪、盐分仪、邵氏硬度计或巴氏硬度计

-可选分体式探头,方便测量

-自动旋屏,可锁定

-多种菜单语言可选,包括中文


高效

-计算并记录每次测量的14个2D和3D参数

-在水平、垂直和对角线(XY、YX)之间定位2D轨迹

-截屏功能,可存储100个截屏图片并连接计算机查看

-电池续航时间延长30%

-通过USB数据线方便的连接计算机,并且给主机供电

-U盘模式--通过计算机访问存储的数据和图形文件

-内置时钟,可标注每个存储数据的时间

-可下载PosiSoft软件用于下载和查看数据报告

RT1.jpg

美国DeFelsko轮廓仪 表面粗糙度仪RTR3D参数

型号

RTR3D1

RTR3D3

 主机

标准型

高级型

 测量范围(HL)

20~115μm / 0.8~4.5mils

 测量范围(Rt)

10~115μm / 0.4~4.5mils

 最小粗糙度(Ra)

2μm / 0.08mil

 测量精度(HL)

±5μm / ±0.2mils

 测量精度(Rt)

±(5μm+5%) / ±(0.2mil+5%)

 测量精度(Ra)

±(0.25μm+5%) / ±(0.01mil+5%)

 加载面直径

Ø6.35mm (Ø0.25inch)

 加载压力

110gf  / 1.1N

 视野

3.8x3.8mm / 0,149 x 0,149inch

 横向采样

3.7μm / 0.145mil

 垂直分辨率

100nm - 2D/3D,1nm - SDF / 3.93μin - 2D/3D,0.393μin - SDF

 分辨率

0.1μm / ±(0.1mil

 测量参数(2D)

Ra、Rq、Rp、Rv、Rt、Rz、Rpc

 测量参数(3D)

H、Sa、Sq、Sz、Sp、Sv、Spd



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