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德国FOERSTER高精度钴磁仪1.097 MS 司提供了精确、全自动和经济型的单位重量的饱和磁化强度 σs 和单位体积的饱和磁*强度 Js 的测量系统。因为该测量系统是与标样的几何形状无关的，也使得它可以测量形状更为复杂的标样。
奥林巴斯olympus超声波探头 - 接触式探头 角度声速探头和楔块 整合角度声速探头 AWS楔块和探头 垂直入射横波探头 延迟块探头 保护面探头 水浸探头 Accuscan笔刷 点焊探头 高频探头 高频水浸探头 测厚双晶探头 Atlas欧洲标准探头 带有复合晶片的整合角度声速探头 TOFD探头 袖珍式旋入式TOFD探头 特殊探头
德国FISCHER荧光测厚及材料分析仪XRAY XAN 250 和 XAN 252 特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。
德国FISCHER镀层厚度测量仪X-RAY XULM240 是一款设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。
德国菲希尔荧光镀层测厚及材料分析仪，是一款应用广泛的能量色散型X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。XDL230 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
德国Fischer菲希尔线路板铜箔测厚仪SR-SCOPE® DMP30 针对电路板上铜厚度测量量身定制， 快速、准确、无损地测量印刷电路板上的铜厚度，并且不受底层铜层的影响。
德国FISCHER菲希尔高精密涂层测厚仪DMP10-40 系列的便携性、功能使其具有足够的通用性，可用于广泛的应用。这些灵活的设备是接触式和非破坏性测量铁基材和有色金属基材上涂层厚度的解决方案。为此，我们有适合您需求的型号选择：ISOSCOPE®、DELTASCOPE® 或 DUALSCOPE®。
德国FISCHER 菲希尔涂层测厚仪 测量探头通过 USB-C 和蓝牙轻松传输数据,通过灯光，声音和振动进行实时反馈以进行上下限监控。
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