相控阵腐蚀检测解决方案

相控阵腐蚀检测解决方案

腐蚀成像解决方案

相控阵检测有助于快速高效地完成腐蚀检测。我们的解决方案提供全编码C扫描成像功能，不仅可提高检测人员的工作效率，而且还可采集到分辨率更高的数据。

HydroFORM扫查器、FlexoFORM扫查器、RexoFORM楔块、及双晶线性阵列探头可以为探测由于腐蚀、磨蚀、侵蚀而造成的壁厚减薄情况提供有效的检测方案。我们的解决方案还可以探测出壁内损伤，如：氢致起泡，或制造过程中产生的分层，而且可以轻易将这些异常现象与壁厚减薄情况区别开来。

双晶线性阵列探头

双晶线性阵列探头是一种性价比很高的腐蚀检测解决方案。这种探头在装配了一个奥林巴斯编码器时，可以完成编码C扫描成像操作，其近表面分辨率为1毫米。

用于高级腐蚀检测的脉冲/接收（PR）双阵列探头

我们的脉冲接收（PR）REX1双线阵（DLA）探头支持新型相控阵（PA）检测技术的先进功能，其复杂的布线优化了声束发射能力。

这种PR型DLA探头可使您进行更先进的PA检测，即使在使用不带脉冲发生器/接收器模块的相控阵采集仪器时也是如此。除了标准的PA成像之外，REX1 DLA PR探头还可用于执行高效、高质量的全聚焦方式（TFM）和相位相干成像（PCI）扫查。

FlexoFORM 扫查器

RexoFORM 和 VersaMOUSE 可以进行单线编码扫查，在使用整合型步进点击按钮时，还可以进行二维成像操作。

VersaMOUSE是一款使用一个相控阵探头进行线性编码扫查的扫查器。扫查器有一个整合性步进按钮，非常适用于2维成像应用，如：CFRP平板检测和腐蚀检测。VersaMOUSE在完成一个单行编码扫查后，可以在与扫查轴垂直的方向上步进移动。然后在紧挨着前一行扫查的位置进行另一行扫查。反复进行这个操作，为检测区域生成一个完整的2维图像。

使用标准的安装孔，可以非常容易地将VersaMOUSE扫查器可调节联结轭安装在IHC型楔块上。装有弹簧的系统经过优化，可以尽可能地降低所占用的空间高度。也可以使用快连系统将联结轭连接到扫查器，连接方式可使探头与扫查轴平行，也可使探头与扫查轴垂直。

编码器轮经过特殊设计，具有在潮湿表面上防滑的性能。 其坚固耐用的结构使得这款扫查器成为一种使用单一探头完成多种相控阵检测的经济而可靠的解决方案。为了提高扫查器在铁磁性表面上的稳定性，我们还提供了一个可选购磁轮套装。

HydroFORM 扫查器

HydroFORM 在使用其整合型Mini-Wheel（袖珍轮）编码器时，还可以进行单线编码扫查，如果使用可选配步进点击器，则可以进行二维成像操作。

半自动HydroFORM™扫查器是一种易于部署的双轴编码相控阵（PA）解决方案，能够在极短时间内采集大面积高分辨率数据，实现快速可靠的壁厚测绘和壁内损伤检测。 标准HydroFORM套装配备了成熟的相控阵线性探头和局部水浸系统，现在您还可以选择双晶阵列探头配置。 两种选项均可实现高达1 mm × 1mm的分辨率。

为了优化光栅扫查效率，HydroFORM系统配备了多个提高效率的功能：

* 集成了X轴和Y轴编码器

* 智能步进按钮

* 步进位置和耦合情况指示器

* 扫查速度核查

* 高效气泡管理（I8线性探头）

* 易于步进的磁轮（REX2 DLA

* 探头）

* 制动系统

这种相控阵解决方案可轻松地对外径为101毫米或更大的曲面进行检测，适用于多种应用中。

包括：

* 监控因腐蚀、磨蚀和侵蚀而造成的壁厚减薄情况

* 探测壁内的损伤，如：氢致起泡或制造过程中产生的分层，而且还可将这些异常现象与壁厚减薄情况区别开来